Kirjeldus
YR05516 // YR05519 on Kalstein, kes kasutab kaasaskantava valguse värvide erinevuse instrumendi autonoomset põhitehnoloogia uurimist ja arendust, on spektraalarhitektuuri värvide erinevuse instrumendi kõrge tase, lisaks tagab samal ajal täpse suhtelise Δ E ja ka täpsuse. L, A ja B absoluutväärtusest saab pikka aega, igal ajal ja igal pool läbida rahvusvahelised standardid ja riiklikud mõõtestandardid. Sisseehitatud ränist fotodioodide massiivi (kaks rida 24) andurite abil importige tahvel, korduv Δ E * ab lihtne juhtimine 0.1 piires, nii mõõtmiskiirus kui ka töö mugavus, pole vaja arvutit ühendada või tarkvara saab kiiresti värvide erinevuse otsustada mõõtmine, 8 mm läbimõõt vastavad plastelektroonikale, värvile ja tindile, tekstiili trükkimisele ja värvimisele, trükkimisele, näiteks keraamikatööstusele, tootmise täpne värvierinevus ja kvaliteedikontroll.
Toote omadused
- Φ 8 mm läbimõõdu mõõtmine, 10 ° nurk, vaatleja suudab täita enamiku tööstuse klientide nõudmisi;
- Täisspektri LED-valgusallika, tasapinnalise võre ja tõelise värvi mahtuvusliku puuteekraani kombinatsioon kõrge lähtepunktiga;
- Räni fotodioodide massiiv (24 rühma kahekordsetes veergudes), kuvamise täpsus 0.1, hea korratavus;
- Valgusallika eluiga on üle 3 miljoni mõõtmise 5 aasta jooksul ja liitiumaku teeb 6,000 tunni jooksul 8 mõõtmist, mida saab korduvalt laadida ja millel on pikk aku kasutusiga;
- Kiire andmete otsing, analüüs ja võrdlus 500 andmesalvestusnäidise ja 10,000 XNUMX näidisega.
Tehnilised kirjeldused
| MUDEL | YR05518 | YR05519 |
| Optiline geomeetria | D/8 (hajutatud valgustus, 8-kraadine vaatenurk) | D/8 (hajutatud valgustus, 8-kraadine vaatenurk) |
| SCI režiim | SCI režiim | |
| Järgige CIE No.15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 | Järgige CIE No.15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 | |
| Iseloomulik | Φ8 mm avad, kasutatakse täpseks värvimõõtmiseks ja kvaliteedikontrolliks plastelektroonikas, värvi ja tindi, tekstiili ja rõivaste trükkimise ja värvimise, trükkimise, keraamika ja muudes tööstusharudes | Φ8 mm avad, kasutatakse täpseks värvimõõtmiseks ja kvaliteedikontrolliks plastelektroonikas, värvi ja tindi, tekstiili ja rõivaste trükkimise ja värvimise, trükkimise, keraamika ja muudes tööstusharudes |
| Sfääri integreerimine | Φ40mm | Φ40mm |
| Lamp | Kombineeritud täisspektriga LED valgusallikas | Kombineeritud täisspektriga LED valgusallikas |
| Spektrofotomeetriline režiim | Lame rest | Lame rest |
| Mõte | Ränist fotodioodide massiiv (kaherealine 24 rühma) | Ränist fotodioodide massiiv (kaherealine 24 rühma) |
| Lainepikkuse vahemik | 400-700 nm | 400-700 nm |
| Lainepikkuse intervall | / | / |
| Poolriba laius | 10nm | 10nm |
| Mõõdetud peegeldusvahemik | L:0 ~ 100; peegeldusvõime: peegeldusvõimet saab mõõta 3 kasutaja määratud lainepikkusel (vaikimisi: 440nm, 550nm, 600nm) | L:0 ~ 100; peegeldusvõime: peegeldusvõimet saab mõõta ühel kasutaja määratud kindlal lainepikkusel (vaikimisi: 1 nm) |
| Ava mõõtmine | Φ8mm | Φ8mm |
| Spekulaarne komponent | SCI | SCI |
| Värviruum | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh | CIE LAB, XYZ, Yxy, LCh |
| Värvierinevuse valem | ΔE*ab, ΔE*00 | ΔE*ab, ΔE*00 |
| Muu kolorimeetriline indeks | / | / |
| Vaatlusnurk | 10 ° | 10 ° |
| Valgustav | D65,A,F2(CWF) | D65,A,F2(CWF) |
| Kuvatavad andmed | Peegeldusvõime (kasutaja määrab peegelduvuse 3 kindlal lainepikkusel), proovide kromaatilisuse väärtused, värvide erinevuse väärtused / graafik, PASS / FAIL tulemus, värvi simulatsioon, värvi nihe | Peegeldusvõime (kasutaja määrab peegelduvuse 1 kindlal lainepikkusel), proovide kromaatilisuse väärtused, värvide erinevuse väärtused / graafik, PASS / FAIL tulemus, värvi simulatsioon, värvi nihe |
| Kuvatav täpsus | Ekraan 0.1, salvestusruum 0.01 | 0.1 |
| Aja mõõtmine | Umbes 1.5ndad | Umbes 1.5ndad |
| Korratavus | Kromaatilisuse väärtus: MAV/SCI, ΔE*ab 0.08 piires (kui valget kalibreerimisplaati mõõdetakse 30 korda 5-sekundiliste intervallidega pärast valget kalibreerimist) | Kromaatilisuse väärtus: MAV/SCI, ΔE*ab 0.1 piires (kui valget kalibreerimisplaati mõõdetakse 30 korda 5-sekundiliste intervallidega pärast valget kalibreerimist) |
| Instrumentidevaheline viga | MAV/SCI, ΔE*ab piires 0.4 | MAV/SCI, ΔE*ab piires 0.4 |
| (12 BCRA Series II värvilise plaadi keskmine) | (12 BCRA Series II värvilise plaadi keskmine) | |
| Mõõtmisrežiim | Üksikmõõtmine, keskmine mõõtmine (2–99 korda) | Üksikmõõtmine, keskmine mõõtmine (2–99 korda) |
| Asukoha määramise meetod | Stabilisaatori ristasend | Stabilisaatori ristasend |
| mõõde | P*L*K=81X71X214mm | P*L*K=81X71X214mm |
| Kaal | umbes 460g | umbes 460g |
| aku | Liitium-ioonaku, 6000 mõõtmist 8 tunni jooksul | Liitium-ioonaku, 6000 mõõtmist 8 tunni jooksul |
| Valgusti eluiga | 5 aastat, mõõtmised üle 3 miljoni korra | 5 aastat, mõõtmised üle 3 miljoni korra |
| Ekraan | 3.5-tolline TFT värviline LCD, mahtuvuslik puuteekraan | 3.5-tolline TFT värviline LCD, mahtuvuslik puuteekraan |
| Andmeport | USB | USB |
| Data Storage | Standard 500 tk, näidis 10000 XNUMX tk | Standard 500 tk, näidis 10000 XNUMX tk |
| Keel | Lihtsustatud hiina, inglise, traditsiooniline hiina keel | Lihtsustatud hiina, inglise, traditsiooniline hiina keel |
| Töökeskkond | 0–40 ℃, 0–85% suhteline õhuniiskus (ilma kondenseerumiseta), kõrgus < 2000 m | 0–40 ℃, 0–85% suhteline õhuniiskus (ilma kondenseerumiseta), kõrgus < 2000 m |
| Ladustamiskeskkond | -20–50 ℃, 0–85% suhteline õhuniiskus (ilma kondenseerumiseta) | -20–50 ℃, 0–85% suhteline õhuniiskus (ilma kondenseerumiseta) |
| Standardvarustus | Toiteadapter, USB-kaabel, kasutusjuhend, SQCX tarkvara (laadige alla kontori veebisaidilt), valge ja must kalibreerimisõõnsus, kaitsekate, randmerihm, 8 mm lame ava | Toiteadapter, USB-kaabel, kasutusjuhend, valge ja must kalibreerimisõõnsus, kaitsekate, randmerihm, 8 mm lame ava |
| Lisavarustus | USB-mikroprinter, pulbri testkast | USB-mikroprinter, pulbri testkast |
| märkused | Tehnilised parameetrid on ainult viitamiseks, olenevalt toote tegelikust müügist | Tehnilised parameetrid on ainult viitamiseks, olenevalt toote tegelikust müügist |
